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芯片检测开云真人官网首页 可以测量十五种几何元素(点,直线,平面,圆,圆弧,椭圆,矩形,键槽,圆环,圆柱,圆锥,球,开曲线,闭曲线,焦面,角度和距离),并且可以测量高度,也可以预置基本几何元素。根据实际测量需求可以选择接触式测量---探针测量,也可以选择非接触式测量---影像和激光位移器测量。多种测量方法: 智能寻边,整体采点,多段采点,鼠标采点,邻近采点,十字线采点,放大采点,对比采点。
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测量是我公司自动影像加探针和激光位移器测量应用软件,可以对二维测量的坐标进行可视化分析处理和检测,也可以使用探针进行三维几何元素测量,也可以用激光位移器测量平面度和高度。应用于各种精密制造业,如手机组件,模具,电子,通信,机械,五金,塑料,仪表,钟表,PCB,LCD等行业。可测量的材料包括金属,塑料,橡胶,玻璃,PCB,陶瓷等;
芯片检测开云真人官网首页 技术参数:
工 作 台 | 仪器型号 | EVM-1510G | EVM-2010G | EVM-2515G | EVM-3020G | EVM-4030G |
金属台尺寸(mm) | 354×228 | 404×228 | 450×280 | 500×330 | 606×466 | |
玻璃台尺寸(mm) | 210×160 | 260×160 | 306×196 | 350×280 | 450×350 | |
运动行程(mm) | 150×100 | 200×100 | 250×150 | 300×200 | 400×300 | |
仪器重量(kg) | 100 | 110 | 120 | 140 | 240 | |
外型尺寸L*W*H | 756×540×860 | 670×660×950 | 720×950×1020 |