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产品简介
平面度测试仪用于准确且多样性地对各种IC封装器件的引脚进行测量。引脚的共面与否、是否有移位和尺寸大小均可通过软件记录和存储。测试过程中，IC封装器件的引脚放置于LED阵列光源形成的可调节细格光栅前，器件的左右移动通过仪器侧面的手轮控制。
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一、产品介绍：
平面度测试仪用于准确且多样性地对各种IC封装器件的引脚进行测量。引脚的共面与否、是否有移位和尺寸大小均可通过软件记录和存储。测试过程中，IC封装器件的引脚放置于LED阵列光源形成的可调节细格光栅前，器件的左右移动通过仪器侧面的手轮控制。
二、产品特点：
1、元器件共面性测试
2、引脚移位检测
3、引脚高度错误检测
4、引脚面积测量
5、直径、角度、不规则面积测量
6、手轮可调节光栅
7、非刺眼型光源
8、高精度XZ轴测距
9、SPC过程统计
三、分析软件
平面度测试仪软件方面，引脚成像于电脑显示器上，并可进行测量，同时通过器件的移动可逐一检测各个引脚高度是否，高精度的XZ轴测微距头保证了测试的准确性。所有数据可以以记事本或EXCEL表格形式存储于电脑内，方便调用。同时开放SPC过程统计功能供参考。直接元素测量能测量12种元素（点、直接、圆、圆弧、椭圆、矩形、槽形、O形环、距离、角度、开运线、闭云线）。测量方法多样（自动判别测量、采点测量，对比测量、公差对比测量，预置元素）。单点采集方法有多种：可鼠标采点，十字线寻边采点，放大采点，直线采点，鼠标自动捕捉。
1、间接测量
两元素之间的距离，两边夹角，多点构成平面的平面度等，都可以通过软件的构造功能来实现。可以构造的元素有：点，线，圆，弧，角度，平面等
2、影像测量高度差
先在一个平面聚焦，软件会记录一个平面的高点数据，然后在另一个面聚集，软件同样会记录下一个点的数据，软件通过亮点的坐标计算出两个面的高度差，误差小于0.005mm。
2、地图功能
可以可一个工件完整的图片拍出，在图片进行测量和标注。图片可以储存，在调出进行测量。
3、宏测量
宏测量功能就是，将一连串相同的"构造测量"，构造命令关联到一个按钮上，点击按钮，即开始执行宏测量功能，宏测量功能会自动完成构造动作，减少用户操作鼠标次数，提高工作效率。
4、模板测量
模板测量方法，也是目测方法的一种，主要是通过用户眼睛目测，看是否合格，类似于投影仪上用到的标准规格板。
模板测量，主要有十字线模板，方格模板和同心圆模板。
十字线模板主要用来测量角度，方格模板主要是用来测量距离，通信团模板主要用来测量圆。
5、预置元素
软件可以在机械坐标系或者工作坐标系随便预置元素。
6、坐标系建立
可以随便建立多个工件坐标系，然后十字线随坐标旋转，因此不用去摆正元件。建立工件坐标系的还一个好处就是保持跟图纸一样的基准，这样测量时可以得到X和Y向距离。
7、数据输出
测量完的数据不需要用手去抄写，可以直接导出到Word、Excel、Tct、Cad然后打印。
8、专业SPC统计分析 PROFESSIONALSPC STATISTICS ANALYSIS
引用：测量目的
本IC芯片引脚共面性在线光电检测仪是一款集光机电算、图像识别和数控技术于一体的数字化、智能化光电仪器。它能快速获取引脚共面性图像信息，并通过软件进行自动识别不良品等功能。其创新点如下： ①原理创新。同类产品采用小景深原理作为引脚共面性是否超标的判据。该判别原理缺点是，因光学规律制约了小景深系统的视场不能大，要检测较大的IC芯片引脚共面性，只能分步采集，检测时间较长，而仪器采用与基准平面比较为原理的创新思路。即引入检测基准平面与引脚进行距离比较，通过图像处理软件可知其比较值，进而自动判断引脚的共面性是否超差。这一原理，可以通过大视场、高分辨率的光学系统一次性采集到IC芯片引脚图像，因此检测速度快。 ②技术手段创新、实现高性价比。为实现原始创新思路的技术手段是设计长工作距离大视场高分辨率光学采集系统，以替代国外同类产品中严格控制景深的光学系统。两者相比，本光学系统设计难度相对低，故本仪器具有高性价比。 技术关键： ①长工作距离大视场高分辨率光学采集系统的设计制造 ②图像处理与自动识别软件的开发。
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