IC芯片元器件的共面性测试仪

IC芯片元器件的共面性测试仪问题

引脚的共面性指器件引脚底面不在同一平面的情况。一般用引脚底面离元件引线确定的平面的距离表示。引脚共面性的问题，主要涉及多引脚的器件，如QFP、BGA、连接器等。

一、仪器工作原理：

测量仪工作原理：被测工件（置于工作台上）由LED表面光或轮廓光（在底座内）照明后，经变焦距物镜与彩色CCD摄影机罩壳内摄取被测零件影像，再通过S端子传送至计算机及显示器上，软件在显示器上产生的视频十字线为基准，对其进行瞄准测量，通过工作台带动光学尺与在X、Y方向上移动，取空间各点坐标值，由转接卡至计算机，对测量坐标值进行几何运算，完成各种数据量测工作。

二、应用领域：

 本仪器采用测量软件，能率的检测各种形状复杂工件的轮廓和表面形状，1、元器件共面性测试、引脚移位检测、引脚高度错误检测、引脚面积测量、直径、角度、不规则面积测量、手轮可调节光栅、非刺眼型光源、高精度XZ轴测距、SPC过程统计如样板、冲压件、凸轮，成形铣刀等各种工具，刀具和零件，以及端子、钟表、金刚石等生产。

三、仪器功能：

    产品基本几何元素测量、组合元素测量、几何元素构造、形位公差评定、逆向工程等，各种报表的输出,各种产品的检测。

四、仪器特点：

    1、机台核心零部件全部采用产品，整机经过严格，规范的组装和调试，整机在24小时恒温间内经300小时不间断运行负载测试。

2、自准直仪校准机台机身工作台装配工艺，保证机器空间测量高精度。

3、工作台，经过严格热处理时效，长期使用保证基准面不变形，导轨运行精度稳定。

4、采用山东济南青“00”级花岗石底座，保证机械系统*的稳定性。

5、采用高精密V型交叉导轨，保证仪器*的机械精度。

五、测量软件简介：

 1、全中文界面（语音可选择）、鼠标直接点击操作，智能型简便易学易用。

2、对一般几何测量圆、点、线、面、椭圆、圆弧、槽形、O形环、距离、角度、开云线、闭云线等，可以自动抓取量测数据，度稳定。

3、测量方法多样（自动判别测量、采点测量、对比测量、公差对比测量、预置元素等），可以满足用户不同需求，大大提高使用的方便性和测量精度。

4、测量工件可任意摆放，软件具有强大的坐标平移、旋转或重新设置功能。

5、可以在影像上对所测元素直接进行尺寸标定，给客户以清晰、直观的感觉。

6、无论规则与不规则形状工件只需鼠标框选，图形自动寻边找点，进行二维图形抄数。

7、实现DXF格式的输入和输出，还可保存BMP图片以及用户程序格式。

8、直观、丰富的报表输出，Word 、Excel、TXT格式及统计功能。

9、实用的SPC模块。

1. 十字线中心采点、鼠标采点、自动对焦采点、鼠标自动采点、直线采点、方形框采点、放大采点、采集点。
2. 采点测量直线、框选测量直线、分段框选测量直线、采点测量圆、框选测量圆、分段框选测量圆、单击圆内部测量圆、框选测量多圆。
3. 采点测量弧、框选测量弧、分段测量超过屏幕的弧、采点测量椭圆、框选测量椭圆、分段测量椭圆、采点测量矩形、框选测量矩形。
4. 采点测量槽形、框选测量槽形、采点测量O环形、框选测量O环形、采点测量云线、采点测量闭合云线、影像测量高度、圆心框采点。
5. 自动捕捉测量、测量超过屏幕的线，弧，圆，椭圆、删除后一次采集的点。